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ROHS、成份分析儀器 直讀式光譜儀

  • 偏振X射線熒光光譜儀(XRF) 詳細說明

德國斯派克分析儀器公司開發(fā)出了一種其成功的技術(shù),把偏振X射線應(yīng)用于熒光分析。

SPECTRO XEPOS內(nèi)部采用高性能部件,可獲得更佳的靈敏度和準確性。采用偏振次級靶以確保更佳激發(fā),12位樣品自動交換器,預先安裝好的應(yīng)用軟件包和智能軟件模塊,使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。

SPECTRO XEPOS配有預先安裝好的應(yīng)用包,包括:在工廠預先校正好的各種硬件和分析方法。適合分析:土壤、污泥、油中添加劑、水泥、爐渣、耐火材料、電子元器件RoHS檢測等。

XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應(yīng)用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、(汞)等元素分析,檢出下限低,靈敏度高、穩(wěn)定性好,可應(yīng)對歐洲WEEE、RoHS指令。


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